資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 蛍光Ｘ線分析法による岩石の主成分・微量成分分析と補正法の評価(演旨) |
| 論文題名(英語) | Major and trace element analysis of rock samples with XRF: evaluation of analytical method with results on reference samples(abs.) |
| 資料名 | 日本鉱物科学会年会講演要旨集 |
| 資料名(英語) | Annual Meeting of Japan Association of Mineralogical Sciences |
| 著者 | 小笠原 正継, 水平 学, 下田 玄 |
| 著者(英語) | OGASAWARA M., MIZUHIRA M., SHIMODA G. |
| 巻 | 2007 |
| 頁 | 228-228 |
| 発行年 | 2007 |
| 発行者 | 日本鉱物科学会 |
| 発行者(英語) | Japan Association of Mineralogical Sciences |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ISSN | 13486543 |
| ID | 200831667 |