資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Study of the Variation of Electron Temperature Profile and its Relation to Plasma Refilling Process (SM11B-12)(poster session)(abs.) |
| 資料名(英語) | EOS, Transactions, American Geophysical Union 1996 AGU Fall Meeting |
| 著者(英語) | CHOI Young-Wan, MIN Kyoung-Wook, OYAMA Koh-ichiro, KIM Joon, ABE Takumi |
| 巻 | 77 |
| 号 | 46 |
| 頁 | F605-F605 |
| 発行年 | 1996 |
| 発行者(英語) | American Geophysical Union |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 00963941 |
| ID | 200852473 |