資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Quantitative Explanation of Reverse Pitch Angle Dispersion Ion Injection Signatures (SM52B-8)(abs.) |
| 資料名(英語) | EOS, Transactions, American Geophysical Union 1998 Spring Meeting |
| 著者(英語) | TAKAHASHI K., ANDERSON B.J. |
| 巻 | 79 |
| 号 | 17 |
| 頁 | S329-S329 |
| 発行年 | 1998 |
| 発行者(英語) | American Geophysical Union |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 00963941 |
| ID | 200852753 |