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Ion Microprobe (ims 1270) Quantitative Analysis of Trace Elements of Volcanic Plagioclase using High Mass Resolution Method (V11D-12)(abs.) (TOGASHI Shigeko et al., 1998)

項 目 内 容
論文題名(英語) Ion Microprobe (ims 1270) Quantitative Analysis of Trace Elements of Volcanic Plagioclase using High Mass Resolution Method (V11D-12)(abs.)
資料名(英語) EOS, Transactions, American Geophysical Union 1998 AGU Fall Meeting
著者(英語) TOGASHI Shigeko, KITA Noriko T., TOMIYA Akihiko, MORISHITA Yuichi
79
45
F951-F951
発行年 1998
発行者(英語) American Geophysical Union
論文の言語区分 英語 (English)
ISSN 00963941
ID 200853147