資料詳細

全反射蛍光X線分析法による超純水中全シリコンの分析(岩森ほか, 1997)

項 目 内 容
論文題名 全反射蛍光X線分析法による超純水中全シリコンの分析
論文題名(英語) Analysis of Total Silicon in Ultra Pure Water Using-Total Reflection X-Ray Fluorescence
資料名 X線分析の進歩,28
資料名(英語) Advances in X-ray Chemical Analysis Japan, 28
著者 岩森 智之, 鳥山 由紀子, 今岡 孝之
著者(英語) IWAMORI Tomoyuki, TORIYAMA Yukiko, IMAOKA Takashi
187-194
発行年 1997
発行者 アグネ技術センター,東京
発行者(英語) Agne Gijutsu Center, Tokyo
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ISSN 09117806
ISBN 4-900041-55-6
ID 201020518