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低希釈ガラスビード法による蛍光X線分析装置(RIX-2100)を用いた珪酸塩岩石中の主成分,微量成分の定量分析(隅田ほか, 2010)

項 目 内 容
論文題名 低希釈ガラスビード法による蛍光X線分析装置(RIX-2100)を用いた珪酸塩岩石中の主成分,微量成分の定量分析
論文題名(英語) X-ray fluorescence (XRF; RIX-2100) analysis of major and trace elements for silicate rocks by low dilution glass bead method
資料名 Magma
資料名(英語) Magma
著者 隅田 祥光, 奥平 敬元, 古山 勝彦
著者(英語) SUDA Y., OKUDAIRA T., FURUYAMA K.
92
21-39
発行年 2010
発行者 火成作用研究会
発行者(英語) Magmatism Research Group
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ID 201022288