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基礎から学ぶマススペクトロメトリー/質量分析の源流--第9回 Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS),クラスターSIMS,帯電液滴衝撃SIMS--(平岡, 2010)

項 目 内 容
論文題名 基礎から学ぶマススペクトロメトリー/質量分析の源流--第9回 Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS),クラスターSIMS,帯電液滴衝撃SIMS--
論文題名(英語) Fundamentals of Mass Spectrometry - Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), Cluster SIMS, and Electrospray Droplet Impact SIMS -
資料名 質量分析
資料名(英語) Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan
著者 平岡 賢三
著者(英語) HIRAOKA Kenzo
58
5
175-184
発行年 2010
発行者 日本質量分析学会
発行者(英語) Mass Spectrometry Society of Japan
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 13408097
ID 201022825