資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | Ar-Ar及びI-Xe法の拡張による極微量ハロゲンの検出（O-3)(演旨） |
| 論文題名(英語) | Determination of trace amounts of halogens using an extenshon of Ar-Ar and I-Xe methods (O-3)(abs.) |
| 資料名 | 日本地質学会第116年学術大会講演要旨 |
| 資料名(英語) | Abstracts, the 116th Annual Meeting of the Geological Society of Japan |
| 著者 | 角野 浩史, 馬上 謙一, 長尾 敬介 |
| 著者(英語) | SUMINO H., BAJO K., NAGAO K. |
| 巻 | 116 |
| 頁 | 39-39 |
| 発行年 | 2009 |
| 発行者 | 日本地質学会 |
| 発行者(英語) | Geological Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ISSN | 13483935 |
| DOI | 10.14863/geosocabst.2009.0.76.0 |
| キーワード | 希ガス, ハロゲン, Ar-Ar年代測定法, I-Xe法, 質量分析, noble gas, halogen, Ar-Ar dating method, I-Xe method, mass spectrometry |
| ID | 201040066 |