資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 電気伝導度測定によって示される模擬断層の接触状態の定量的評価(P1-54)(ポスターセッション)(演旨) |
| 論文題名(英語) | Quantitative Estimation of Contact State on Simulated Fault Revealed by Electrical Conductivity Monitoring (P1-54)(poster session)(abs.) |
| 資料名 | 日本地震学会講演予稿集秋季大会 |
| 資料名(英語) | Programme and Abstracts, the Seismological Society of Japan, Fall Meeting |
| 著者 | 山下 太, 福山 英一, 溝口 一生 |
| 著者(英語) | YAMASHITA Futoshi, FUKUYAMA Eiichi, MIZOGUCHI Kazuo |
| 巻 | 2011 |
| 頁 | 181-181 |
| 発行年 | 2011 |
| 発行者 | 日本地震学会 |
| 発行者(英語) | Seismological Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ID | 201110500 |