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走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた断層破砕帯の定方位試料の微細組織観察(R14-P-7)(ポスターセッション)(演旨)(亀高ほか, 2012)

項 目 内 容
論文題名 走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた断層破砕帯の定方位試料の微細組織観察(R14-P-7)(ポスターセッション)(演旨)
論文題名(英語) Microstructure observation of oriented samples form fault zone using Scanning Electron Microscope (R14-P-7)(poster session)(abs.)
資料名 日本地質学会第119年学術大会講演要旨
資料名(英語) Abstracts, the 119th Annual Meeting of the Geological Society of Japan
著者 亀高 正男, 島田 耕史, 中山 一彦, 瀬下 和芳, 田中 義浩, 林 俊夫, 下釜 耕太, 岡崎 和彦
著者(英語) KAMETAKA Masao, SHIMADA Koji, NAKAYAMA Kazuhiko, SESHIMO Kazuyoshi, TANAKA Yoshihiro, HAYASHI Toshio, SHIMOGAMA Kota, OKAZAKI Kazuhiko
119
266-266
発行年 2012
発行者 日本地質学会
発行者(英語) Geological Society of Japan
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ISSN 13483935
DOI 10.14863/geosocabst.2012.0_509
ID 201210969