資料詳細
項 目 | 内 容 |
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論文題名 | 走査型電子顕微鏡(SEM)を用いた断層破砕帯の定方位試料の微細組織観察(R14-P-7)(ポスターセッション)(演旨) |
論文題名(英語) | Microstructure observation of oriented samples form fault zone using Scanning Electron Microscope (R14-P-7)(poster session)(abs.) |
資料名 | 日本地質学会第119年学術大会講演要旨 |
資料名(英語) | Abstracts, the 119th Annual Meeting of the Geological Society of Japan |
著者 | 亀高 正男, 島田 耕史, 中山 一彦, 瀬下 和芳, 田中 義浩, 林 俊夫, 下釜 耕太, 岡崎 和彦 |
著者(英語) | KAMETAKA Masao, SHIMADA Koji, NAKAYAMA Kazuhiko, SESHIMO Kazuyoshi, TANAKA Yoshihiro, HAYASHI Toshio, SHIMOGAMA Kota, OKAZAKI Kazuhiko |
巻 | 119 |
頁 | 266-266 |
発行年 | 2012 |
発行者 | 日本地質学会 |
発行者(英語) | Geological Society of Japan |
論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
ISSN | 13483935 |
DOI | 10.14863/geosocabst.2012.0_509 |
ID | 201210969 |