資料詳細

走査型電子顕微鏡(SEM)用の断層中軸部小型定方位試料の作製法(島田ほか, 2013)

項 目 内 容
論文題名 走査型電子顕微鏡(SEM)用の断層中軸部小型定方位試料の作製法
論文題名(英語) A sampling method of oriented small sample from fault cores for SEM observation
資料名 地質学雑誌
資料名(英語) Journal of the Geological Society of Japan
著者 島田 耕史, 亀高 正男, 中山 一彦, 瀬下 和芳, 田中 義浩, 林 俊夫, 田中 遊雲, 下釜 耕太, 岡崎 和彦
著者(英語) SHIMADA Koji, KAMETAKA Masao, NAKAYAMA Kazuhiko, SESHIMO Kazuyoshi, TANAKA Yoshihiro, HAYASHI Toshio, TANAKA Yukumo, SHIMOGAMA Kota, OKAZAKI Kazuhiko
119
11
727-731
発行年 2013
発行者 日本地質学会
発行者(英語) Geological Society of Japan
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 00167630
DOI 10.5575/geosoc.2013.0050
ID 201324633