資料詳細
項 目 | 内 容 |
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論文題名(英語) | Comparative Study of the Refraction Microtremor Methods : Using seismic noise and standard P-wave refraction equipment for deriving 1D shear-wave profiles |
資料名(英語) | Proceedings of the SEGJ International Symposium - Imaging Technology - |
著者(英語) | PULLAMMANAPPALLIL Satish, HONJAS Bill, LOUIE John, SIEMENS John A., MIURA Hidetoshi |
巻 | 6 |
頁 | 192-197 |
発行年 | 2003 |
発行者(英語) | Society of Exploration Geophysicists of Japan |
論文の言語区分 | 英語 (English) |
アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
ISBN | 4-938493-06-3 |
ID | 201370079 |