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放射光X線から走査透過電子顕微鏡までのシームレストモグラフィーに向けた試料加工法(演旨)(三宅ほか, 2014)

項 目 内 容
論文題名 放射光X線から走査透過電子顕微鏡までのシームレストモグラフィーに向けた試料加工法(演旨)
論文題名(英語) Sample preparation toward seamless tomography from synchrotron x-ray tomography to TEM/STEM tomography (abs.)
資料名 日本鉱物科学会年会講演要旨集
資料名(英語) Abstracts with Program, Annual Meeting of Japan Association of Mineralogical Sciences
著者 三宅 亮, 松野 淳也, 藤 昇一
著者(英語) MIYAKE Akira, MATSUNO Junya, TOH Shoichi
2014
210-210
発行年 2014
発行者 日本鉱物科学会
発行者(英語) Japan Association of Mineralogical Sciences
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
ISSN 13486543
DOI 10.14824/jakoka.2014.0_205
ID 201410768