資料詳細

Millimeter- to decimeter-scale compositional mapping using a scanning X-ray analytical microscope and its application to a reaction zone in high-grade metamorphic rock (UNO Masaoki et al., 2014)

項 目 内 容
論文題名(英語) Millimeter- to decimeter-scale compositional mapping using a scanning X-ray analytical microscope and its application to a reaction zone in high-grade metamorphic rock
資料名(英語) Journal of Mineralogical and Petrological Sciences
著者(英語) UNO Masaoki, OKAMOTO Atsushi, TSUCHIYA Noriyoshi
109
6
271-278
発行年 2014
発行者(英語) Japan Association of Mineralogical Sciences
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 13456296
DOI 10.2465/jmps.140613b
ID 201540106