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Application of a handheld X-ray fluorescence spectrometer for real-time, high-density quantitative analysis of drilled igneous rocks and sediments during IODP Expedition 352 (RYAN J.G. et al., 2017)

項 目 内 容
論文題名(英語) Application of a handheld X-ray fluorescence spectrometer for real-time, high-density quantitative analysis of drilled igneous rocks and sediments during IODP Expedition 352
資料名(英語) Chemical Geology (online)
著者(英語) RYAN J.G., SHERVAIS J.W., LI Y., REAGAN M.K., LI H.Y., HEATON D., GODARD M., KIRCHENBAUR M., WHATTAM S.A., PEARCE J.A., CHAPMAN T., NELSON W., PRYTULAK J., SHIMIZU K., PETRONOTIS K., the IODP Expedition 352 Scientific Team
451
55-66
発行年 2017
発行者(英語) Elsevier B.V.
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 00092541
DOI 10.1016/j.chemgeo.2017.01.007
ID 201700667