資料詳細

Higher order Cauchy–Born rule based multiscale cohesive zone model and prediction of fracture toughness of silicon thin films (URATA Shingo & LI Shaofan, 2017)

項 目 内 容
論文題名(英語) Higher order Cauchy–Born rule based multiscale cohesive zone model and prediction of fracture toughness of silicon thin films
資料名(英語) International Journal of Fracture (online)
著者(英語) URATA Shingo, LI Shaofan
203
1-2
159-181
発行年 2017
発行者(英語) Springer Nature
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 15732673
DOI 10.1007/s10704-016-0147-1
ID 201700732