資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名(英語) | Fast imaging of shallow resistivity structures using a multichannel capacitive electrode system (abs.) |
| 資料名(英語) | Expanded Abstracts with Authors' Biographies: Technical Program |
| 著者(英語) | SHIMA Hiromasa, TEXIER Benoit, KOBAYASHI Tsuyoshi, HASEGAWA Nobusuke |
| 巻 | 65 |
| 頁 | 377-380 |
| 発行年 | 1995 |
| 発行者(英語) | Society of Exploration Geophysicists (SEG) |
| 論文の言語区分 | 英語 (English) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ID | 201730556 |