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Technologies, applications, and reliabilities of Microelectromechanical Systems (MEMS) (131)(abs.) (TSUCHIYA Toshiyuki, 2009)

項 目 内 容
論文題名(英語) Technologies, applications, and reliabilities of Microelectromechanical Systems (MEMS) (131)(abs.)
資料名(英語) Program and Abstracts, SEGJ International Symposium - Imaging and Interpretation: Science and Technology for Substainable Development -
著者(英語) TSUCHIYA Toshiyuki
9
22-22
発行年 2009
発行者(英語) Society of Exploration Geophysicists of Japan
論文の言語区分 英語 (English)
ID 201730614