資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 走査型X線分析顕微鏡と画像処理・解析ソフトウェアを用いたモード測定 |
| 論文題名(英語) | Modal analysis using scanning X-ray analytical microscope and image processing and analyzing softwares |
| 資料名 | 地質学雑誌 |
| 資料名(英語) | Journal of the Geological Society of Japan |
| 著者 | 植木 忠正, 丹羽 正和 |
| 著者(英語) | UEKI Tadamasa, NIWA Masakazu |
| 巻 | 123 |
| 号 | 12 |
| 頁 | 1061-1066 |
| 発行年 | 2017 |
| 発行者 | 日本地質学会 |
| 発行者(英語) | Geological Society of Japan |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| アブストラクトの言語区分 | 英語 (English) |
| ISSN | 00167630 |
| DOI | 10.5575/geosoc.2017.0021 |
| ID | 201840007 |