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3D microstructural analyses of fault rocks using CT and μCT scanning techniques (SMP32-P20)(poster session)(abs.) (Liu e al., 2019)

項 目 内 容
論文題名(英語) 3D microstructural analyses of fault rocks using CT and μCT scanning techniques (SMP32-P20)(poster session)(abs.)
資料名 日本地球惑星科学連合大会予稿集(DVD)
資料名(英語) Abstracts, Japan Geoscience Union Meeting (DVD)
著者(英語) Bingcheng Liu, Aiming Lin, Takafumi Nishiwaki
2019
SMP32-P20
発行年 2019
発行者 日本地球惑星科学連合
発行者(英語) Japan Geoscience Union
論文の言語区分 英語 (English)
キーワード computed tomography, fault rocks, microstructure
ID 300004283