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Developments in microfabrication of mineral samples for simultaneous EBSD-EDS analysis utilizing an FIB–SEM instrument: study on an S-type cosmic spherule from Antarctica (KODAMA et al., 2020)

項 目 内 容
論文題名(英語) Developments in microfabrication of mineral samples for simultaneous EBSD-EDS analysis utilizing an FIB–SEM instrument: study on an S-type cosmic spherule from Antarctica
資料名(英語) Journal of Mineralogical and Petrological Sciences
著者(英語) Yu KODAMA, Naotaka TOMIOKA, Motoo ITO, Naoya IMAE
115
5
407-415
発行年 2020
発行者(英語) Japan Association of Mineralogical Sciences
論文の言語区分 英語 (English)
アブストラクトの言語区分 英語 (English)
ISSN 13456296
DOI 10.2465/jmps.181227
キーワード Focused ion beam, Broad ion beam, Electron backscattered diffraction, Cosmic spherule
ID 300010422