資料詳細

Paleo-stress analysis of fault gouges using Raman spectroscopy and rock magnetic methods (SEM22-P10)(poster session)(abs.) (Nose et al., 2020)

項 目 内 容
論文題名(英語) Paleo-stress analysis of fault gouges using Raman spectroscopy and rock magnetic methods (SEM22-P10)(poster session)(abs.)
資料名 日本地球惑星科学連合大会予稿集 (online)
資料名(英語) Abstracts, Japan Geoscience Union Meeting (online)
著者 能勢 祐揮, 中村 教博, 長濱 裕幸
著者(英語) Yuki Nose, Norihiro Nakamura, Hiroyuki Nagahama
2020
SEM22-P10
発行年 2020
発行者 日本地球惑星科学連合
発行者(英語) Japan Geoscience Union
論文の言語区分 日本語 (Japanese)、英語 (English)
キーワード 断層ガウジ, ラマン分光, 走査型磁場イメージング, Fault gouge, Raman, Scanning magnetic imaging
リンク 日本地球惑星科学連合ホームページ
ID 300015627