資料詳細

Direct dating of faults by luminescence and ESR: Case studies from Japan and Switzerland (SCG59-02)(abs.) (Tsukamoto et al., 2020)

項 目 内 容
論文題名(英語) Direct dating of faults by luminescence and ESR: Case studies from Japan and Switzerland (SCG59-02)(abs.)
資料名 日本地球惑星科学連合大会予稿集 (online)
資料名(英語) Abstracts, Japan Geoscience Union Meeting (online)
著者 塚本 すみ子, Guralnik Benny, Oohashi Kiyokazu, Otsubo Makoto, Tanner David, Brandes Christian, von Hagke Christoph
著者(英語) Sumiko Tsukamoto, Benny Guralnik, Kiyokazu Oohashi, Makoto Otsubo, David Colin Tanner, Christian Brandes, Christoph von Hagke
2020
SCG59-02
発行年 2020
発行者 日本地球惑星科学連合
発行者(英語) Japan Geoscience Union
論文の言語区分 日本語 (Japanese)、英語 (English)
キーワード fault gouge, direct dating, optically stimulated luminescence, electron spin resonance, fault gouge, direct dating, optically stimulated luminescence, electron spin resonance
リンク 日本地球惑星科学連合ホームページ
ID 300016162