資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 鉱物粒界近傍の歪解析を目指した電子回折マッピングの試み(R1-03)(演旨) |
| 論文題名(英語) | Electron diffraction mapping for strain analysis of grain boundary, and its application for mineralogy (R1-03)(abs.) |
| 資料名 | 日本鉱物科学会年会講演要旨集 (online) |
| 資料名(英語) | Abstracts with Program, Annual Meeting of Japan Association of Mineralogical Sciences (online) |
| 著者 | 伊神 洋平, 三宅 亮 |
| 著者(英語) | Yohei IGAMI, Akira MIYAKE |
| 巻 | 2018 |
| 頁 | R1-03 |
| 発行年 | 2018 |
| 発行者 | 日本鉱物科学会 |
| 発行者(英語) | Japan Association of Mineralogical Sciences |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| アブストラクトの言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| ISSN | 13486543 |
| DOI | 10.14824/jakoka.2018.0_27 |
| キーワード | 透過型電子顕微鏡法, 歪解析, 電子回折マッピング, transmission electron microscopy, strain analysis, electron diffraction mapping |
| ID | 300016865 |