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The Universal Sample Holders of Microanalytical Instruments of FIB, TEM, NanoSIMS, and STXM-NEXAFS for the Coordinated Analysis of Extraterrestrial Materials (abs.) (Ito et al., 2020)

項 目 内 容
論文題名(英語) The Universal Sample Holders of Microanalytical Instruments of FIB, TEM, NanoSIMS, and STXM-NEXAFS for the Coordinated Analysis of Extraterrestrial Materials (abs.)
資料名 日本地球化学会年会講演要旨集 (online)
資料名(英語) Annual Meeting of the Geochemical Society of Japan (online)
著者 伊藤 元雄, 富岡 尚敬, 上杉 健太朗, 上椙 真之, 兒玉 優, 桜井 郁也, 岡田 育夫, 大東 琢治, 湯澤 勇人, 山口 亮, 今栄 直也, 唐牛 譲, 白井 直樹, 矢田 達, 安部 正真
著者(英語) Motoo Ito, Naotaka Tomioka, Kentaro Uesugi, Masayuki Uesugi, Yu Kodama, Ikuya Sakuraki, Ikuo Okada, Takuji Ohigashi, Hayato Yuzawa, Akira Yamaguchi, Naoya Imae, Yuzuru Karouji, Naoki Shirai, Toru Yada, Masanao Abe
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G9-PR0068
発行年 2020
発行者 日本地球化学会
発行者(英語) Geochemical Society of Japan
論文の言語区分 英語 (English)
DOI 10.14862/geochemproc.67.0_149
キーワード はやぶさ2サンプル, 微小領域分析, 地球外物質, Hayabusa2 Samples, Microanalytisis, Extraterrestrial Materials
ID 300019406