資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 波長走査型 X線回折法による薄片試料の結晶構造精密化の可能性(演旨) |
| 論文題名(英語) | Possibility of crystal structural refinement of thin-section samples by using wavelength scanning X-ray diffraction method (abs.) |
| 資料名 | 第32回 日本情報地質学会講演会講演要旨 (online) |
| 資料名(英語) | GEOINFORUM-2021 Annual Meeting Abstracts (online) |
| 著者 | 松浦 優介, 萩谷 健治 , 後藤 忠徳 |
| 著者(英語) | Yusuke Matsuura, Kenji Hagiya, Tada-nori Goto |
| 巻 | 32 |
| 頁 | 19-20 |
| 発行年 | 2021 |
| 発行者 | 日本情報地質学会 |
| 発行者(英語) | Japan Society of Geoinformatics |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| キーワード | X線回折, 格子定数, 構造精密化, X-ray diffraction, Lattice constant, Structural refinement |
| リンク | 日本情報地質学会ホームページ |
| ID | 300025048 |