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SEM-EDSによる輝沸石の化学定量分析-電子線ダメージに弱い沸石の局所化学組成をどう測定するか?(SCG45-04)(演旨)(石原・大藤, 2024)

項 目 内 容
論文題名 SEM-EDSによる輝沸石の化学定量分析-電子線ダメージに弱い沸石の局所化学組成をどう測定するか?(SCG45-04)(演旨)
論文題名(英語) Quantitative chemical analysis of heulandite by SEM-EDS - How to measure the local chemical composition of zeolites sensitive to electron beam damage? (SCG45-04)(abs.)
資料名 日本地球惑星科学連合大会予稿集 (online)
資料名(英語) Abstracts, Japan Geoscience Union Meeting (online)
著者 石原 篤, 大藤 弘明
著者(英語) Atsushi ISHIHARA, Hiroaki Ohfuji
2024
SCG45-04
発行年 2024
発行者 日本地球惑星科学連合
発行者(英語) Japan Geoscience Union
論文の言語区分 日本語 (Japanese)
キーワード 沸石, HEU型ゼオライト, ラスタースキャン, Zeolite, HEU-type zeolite, SEM-EDX, Raster scan
リンク 日本地球惑星科学連合ホームページ
ID 300044498