資料詳細
| 項 目 | 内 容 |
|---|---|
| 論文題名 | 二次イオン質量分析法による低ノイズqCMOSカメラを用いた結像型同位体イメージング分析法の開発(MZZ45-09)(演旨) |
| 論文題名(英語) | Development of a Stigmatic Ion Imaging Method of Secondary Ion Mass Spectrometry by Using a qCMOS Camera with Ultra-low Readout Noise (MZZ45-09)(abs.) |
| 資料名 | 日本地球惑星科学連合大会予稿集 (online) |
| 資料名(英語) | Abstracts, Japan Geoscience Union Meeting (online) |
| 著者 | 岡野 真理, 吉元 史, 伊藤 正一 |
| 著者(英語) | Shinri OKANO, Chikashi Yoshimoto, Shoichi Itoh |
| 巻 | 2024 |
| 頁 | MZZ45-09 |
| 発行年 | 2024 |
| 発行者 | 日本地球惑星科学連合 |
| 発行者(英語) | Japan Geoscience Union |
| 論文の言語区分 | 日本語 (Japanese) |
| キーワード | 二次イオン質量分析法, 同位体イメージング, マイクロチャンネルプレート, SIMS, Ion imaging, qCMOS, Micro channel plate |
| リンク | 日本地球惑星科学連合ホームページ |
| ID | 300045043 |